| 1 | X-ışınlarının Madde ile Etkileşmesi | [1] 20-25 |
| 2 | X-ışını Kaynakları, Sinkrotron-temelli X-ışınları | [1] 30-33, [5] 18-22 |
| 3 | Yüzey Analizi | [2] 1-5, [5] 491-494 |
| 4 | Yüzey Analizi için XPS | [2] 5-6, [5] 409-413 |
| 5 | XPS' nin Temel Prensipleri-I | [3] 1-39, [4] 5-20, [5] 43-58 |
| 6 | XPS' nin Temel Prensipleri-II | [3] 39-57, [4] 20-28 |
| 7 | XPS' nin Duyarlılığı ve Özgünlüğü | [2] 10-11 |
| 8 | Atomik ve Elektronik Yapı | [2] 14-16 |
| 9 | Spin-orbit Yarılması | [2] 23-25 |
| 10 | Çekirdek Seviyeleri ve Son Durumlar | [3] 61-104 |
| 11 | Yük-uyarımlı Son Durumlar: Uydular | [3] 109-166 |
| 12 | Sürekli Uydular ve Plazmon Uyduları | [3] 173-206, [4] 93-97 |
| 13 | Basit Moleküllerde ve Yalıtkan Katılarda Valans Orbitalleri | [3] 211-286 |
| 14 | Metalik Katılardaki Valans Elektronlarının Fotoemisyonu | [3] 347-407 |