1 | kristal ve Kristalografi | [2] s.14 - 82, [3]. |
2 | X ışıları difraksiyonu tanımı ve kullanım amaçlarının öğrenilmesi. | [1] s.3-7, [3]. |
3 | Örnek hazırlama yöntemleri. | [1] s. 12-16. [3]. |
4 | Prag yasası. | [1] s.3- 32, [2], s.138- 142., [3]. |
5 | X-RD analiz sonuçlarının değerlendirilmesi. | [1] s. 33-98, [3]. |
6 | X-RD analiz sonuçlarının değerlendirilmesi. | [1]s. 33-98, [3]. |
7 | Reitfeld metodu ve uygulaması. | [3]. |
8 | X-ışınları görüntüsü , sinyal kalitesi, kontrast ve ayırım gücü. | [3]. |
9 | Tümkayaç çözümlemeleri | [1] s. 23-57, [3]. |
10 | Tümkayaç çözümlemesi uygulamaları | [1], s. 23-57, [3], [5] s. 198-277. |
11 | Kil ve diğer malzemelerin çözümlemeleri. | [1] s. 58-213, [3],[4]s.12-33 . |
12 | Kil ve diğer malzemelerin çözümlemesi uygulamaları. | [1] s. 58-213, [3],[4]s.12-33 . |
13 | Alterasyon minerallerinin X-RD değerlendirmeleri. | [1] s. 247-277, [3], |
14 | Yanıt oranı değerlendirmeleri. | [3]. |